¿Cuáles son los equipos de prueba clave para los módulos ópticos 800G?
La infraestructura informática de IA se está expandiendo a toda velocidad.800G OSFPyQSFP-DDÓpticoMóduloshan entrado plenamente en el ciclo de adopción del mercado.La industriamuestra generalmente un patrón diferenciado en el quelos fabricantes líderesoperan a plena capacidad y los cronogramas de pedidos se están alargando,mientras que los fabricantes pequeños y medianos están acelerando la expansión de la producción para captar cuota de mercado.LaPrecisión deEquiposSelección,laFortaleza deFabricantesTécnicos, ylaEstabilidad deSuministroProveedoreshanconvertido en las tres claves fundamentales para que las empresas logren突破.
ETU-LINK ha realizado planes con visión de futuro para la investigación y el desarrollo de una gama completa de módulos ópticos de 800G, equipados con un conjunto completo de equipos de prueba estandarizados para 800G, y ha construido un taller de producción sin polvo de alto estándar. Completa de forma independiente todo el proceso de inspección de materiales entrantes, calibración de rendimiento, pruebas a tres temperaturas, selección por envejecimiento e inspección final de productos terminados.
Su diseño de producto sigue estrictamente los estándares internacionales de la industria, y sus soluciones tienen potencial de alta fiabilidad a largo plazo. Cuenta con ventajas destacadas en control de calidad, rentabilidad y capacidades de respuesta de entrega, y se convertirá en un proveedor alternativo fiable de módulos ópticos de 800G para los clientes!
La calidad superior del producto depende de un sistema de pruebas integral y equipos de prueba profesionales. A continuación, desde la perspectiva de ETU-Link Technology Co., Ltd., desglosaremos los equipos de prueba clave y los elementos de prueba principales esenciales para la producción en masa y la I+D de módulos ópticos 800G OSFP/QSFP-DD.
Ⅱ.Vocabulario Análisis
| Sustantivo | Nombre completo |
| SMSR | Relación de supresión de modo lateral |
| DFB | Láser de retroalimentación distribuida |
| PAM4 | Modulación de amplitud de pulso de 4 niveles |
| TDECQ | Cierre del ojo cuaternario del transmisor y dispersión |
| Vibración TJ/RJ | TJ=Jitter total ; RJ=Jitter aleatorio |
| Tx/Rx | Tx=Transmisor ; Rx=Receptor |
| LD | Diodo láser |
| EVM | Magnitud del vector de error |
| VOA | Atenuador óptico variable |
| TIA | Amplificador de transimpedancia |
Ⅲ.Pruebas de chips/dispositivos ópticos
1.Analizador de parámetros de semiconductoresAnalizador (SPA):Midecurvas LIV de VCSEL/EML/DBF.
2.Analizador de espectro óptico(OSA): Mide la longitud de onda central, el ancho espectral, la relación de supresión de modos laterales SMSR y la deriva de temperatura de la longitud de onda (esencial para DFB).
3.Ancho de bandaTestador: (LCA,Analizador de componentes de ondas luminosas) Respuesta de pequeña señal, ancho de banda, parámetros S.
4.Probador de figura de ruido/parámetros de PD: Responsividad del fotodetector PD, corriente oscura, ruido de entrada del TIA.
Ⅳ.Subpruebas de transmisor y receptor para pruebas PAM4 full dúplex de módulos ópticos de 800G
1.Pruebas del transmisor óptico
La señal óptica es impulsada por un probador de tasa de error de bits. El diagrama de ojo, TDECQ y la fluctuación se miden mediante un osciloscopio de formas de onda ópticas. La longitud de onda y SMSR se miden con un analizador de espectro, y la potencia óptica se mide con un medidor de potencia óptica.Durante el proceso, se requiere una fuente de alimentación programable y un depurador I2C para encender el módulo y configurar los registros .
(1).Probador de tasa de error de bits (BERT): Admite PAM4 de 53.125Gbaud (800G suele usar 8×100G o 4×200G).
(2).Analizador digital de comunicaciones (DCA): Mide el diagrama de ojo de emisión, la relación de extinción, TDECQ, la fluctuación TJ/RJ y el sobreimpulso.
(3).Generador de patrones de pulsos (PPG ): genera códigos de prueba estándar y transmite señales eléctricas de entrada al módulo.
(4).Medidor de potencia óptica: mide la potencia óptica promedio de Tx y detecta fugas de luz durante el apagado.
(5).Atenuador óptico + conmutador óptico: Pruebas automatizadas multicanal
(6).Fuente de alimentación de CC programable: suministra energía al módulo y monitorea la corriente de polarización del LD y el consumo total de energía.
(7).Depurador de lectura/escritura I2C: Lee registros de diagnóstico digital DDM (OSFP/QSFP-DD/SFP Universal)
2.Pruebas de receptor óptico
Se adopta el método de prueba de bucle cerrado adoptado:el extremo TX genera una señal desde el analizador de tasa de error de bits o generador de código → se convierte en una señal óptica mediante el módulo óptico → pasa a través del atenuador y el mezclador → es recibido por el módulo óptico bajo prueba → y la tasa de error de bits se analiza de nuevo en el analizador de tasa de error de bits.
(1).Probador de tasa de error de bits de alta velocidad (BERT): Sensibilidad Rx, potencia óptica de sobrecarga de saturación, BER ≤ 2.4×10⁻⁴
(2).Analizador de modulación óptica: Realiza análisis EVM y TDECQ en señales PAM4.
(3).Fuente de luz con atenuación ajustable: atenuador óptico programable ajustable + láser LD continuamente ajustable
1) Programable VOA:Sensibilidad de escaneo precisa (potencia óptica mínima recibida), paso de 0,01 dB, sensibilidad de escaneo / punto de saturación
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